Ram Stress Test 使用說明
閃動(dòng)數(shù)字——0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF 0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF依次代表內(nèi)存條的8顆顆粒。
從左到右橫著數(shù):0-7代表第1顆粒區(qū)域、8-F代表第2顆粒、0-7代表第3顆粒、8-F代表第4顆粒、0-7代表第5顆粒代、8-F代表第6顆粒、0-7代表第7顆粒、8-F代表第8顆粒
1、DDR 8位與16位的單面測法:
⑴: 0-7(1 )區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根DDR內(nèi)存條的第1顆粒已經(jīng)損壞
⑵:8-F(2 )區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根DDR內(nèi)存條的第2顆粒已經(jīng)損壞
⑶:0-7(3 )區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根DDR內(nèi)存條的第3顆粒已經(jīng)損壞
⑷:8-F(4 )區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根DDR內(nèi)存條的第4顆粒已經(jīng)損壞
⑸:0-7(5 )區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根DDR內(nèi)存條的第5顆粒已經(jīng)損壞
⑹:8-F(6 )區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根DDR內(nèi)存條的第6顆粒已經(jīng)損壞
⑺:0-7(7 )區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根DDR內(nèi)存條的第7顆粒已經(jīng)損壞
⑻:8-F(8 )區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根DDR內(nèi)存條的第8顆粒已經(jīng)損壞
注意DR的顆粒排列循序是1-2-3-4-5-6-7-8
2、如果你是128M的雙面DDR內(nèi)存,如以上顯示界面圖:
1-16M
16-32M
32-48M
48-64M
從1M到64M的上面的4根虛線上出現(xiàn)亂碼的話,說明這根內(nèi)存的的第一面的顆粒有問題(判斷哪個(gè)顆粒的好壞按照以上的說明)
64-80M
80-96M
96-112M
112-128M
從64M到128M的上面的4根虛線上出現(xiàn)亂碼的話,說明這根內(nèi)存的的第二面的顆粒有問題(判斷哪個(gè)顆粒的好壞按照以上的說明)
注意:在內(nèi)存的PCB板上的兩邊標(biāo)著1與92的代表第一面,93與184的代表第二面。1-128M的8根虛線是用來區(qū)分兩面區(qū)域的作用.
3、SD的8位與16位的單面測法:
⑴. 0-7(1)區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根SDR內(nèi)存條的第8顆粒已經(jīng)損壞
⑵. 8-F(2)區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根SDR內(nèi)存條的第4顆粒已經(jīng)損壞
⑶. 0-7(3)區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根SDR內(nèi)存條的第7顆粒已經(jīng)損壞
⑷. 8-F(4)區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根SDR內(nèi)存條的第3顆粒已經(jīng)損壞
⑸. 0-7(5)區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根SDR內(nèi)存條的第6顆粒已經(jīng)損壞
⑹. 8-F(6)區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根SDR內(nèi)存條的第2顆粒已經(jīng)損壞
⑺. 0-7(7)區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根SDR內(nèi)存條的第5顆粒已經(jīng)損壞
⑻. 8-F(8)區(qū)域如果出現(xiàn)亂碼,代表這根SDR內(nèi)存條的第1顆粒已經(jīng)損壞
(注: PCB板上從1到84為第一面,顆粒的排列順序從1到84為8-7-6-5-4-3-2-1,切記注意)
4、通過以上的介紹,說明SD的雙面是跟DDR的是一樣的。但是顆粒的好壞判斷要按照它們的排列循序來判斷。
5、PCB板的短路或者虛焊的測法:如果在8根虛線上都出現(xiàn)亂碼,說明這根內(nèi)存的PCB板有問題。