顯卡測(cè)試軟件 Artifact Tester v2.0 綠色免費(fèi)版

 Artifact Tester v2.0 綠色免費(fèi)版是一款非常不錯(cuò)的顯卡顯存測(cè)試軟件，在2.0版本中增加對(duì)GF100核心顯卡實(shí)時(shí)頻率檢測(cè)的支持，增加對(duì)影馳(Galaxy)檢測(cè)品牌的支持，增加對(duì)顯存大于4GB的NVIDIA顯卡的支持。本文中winwin7給大家介紹的這款顯卡測(cè)試軟件主要功能用來測(cè)試真實(shí)顯存的大小，軟件不受TC顯存，修改BIOS等假卡修改方式的干擾，防止自己購買的顯卡被黑心商家欺騙！


 

顯卡測(cè)試軟件 Artifact Tester v2.0 綠色免費(fèi)版 使用方法

1、將winwin7下載的ArtifactTester.zip文件解壓后運(yùn)行，點(diǎn)第一個(gè)“begin test”就可以測(cè)試；

2、等待軟件運(yùn)行測(cè)試，如果正常的話軟件會(huì)出現(xiàn)上圖所示的測(cè)試場(chǎng)景；

需要進(jìn)行快速顯卡顯存測(cè)試的用戶快來獲取winwin7分享的這款A(yù)rtifact Tester v2.0 綠色免費(fèi)版吧！